晶合集成公开最小工作电压的测试方法、装置、设备、介质专利

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企查查数据显示，晶合集成（02249.HK）公开最小工作电压的测试方法、装置、设备、介质专利，申请日期为2026年9月8日。专利摘要显示，本申请涉及一种最小工作电压的测试方法、装置、设备、介质。最小工作电压的测试方法通过采用基准工作电压对除基准存储块以外的其他存储块进行测试并筛选出失效存储块，能够快速定位出全部存储块中较为薄弱的失效存储块；仅对筛选出的失效存储块执行电压迭代测试，直至失效存储块均满足预设通过条件，并将满足条件时的测试电压作为静态随机存储器的最小工作电压，无需设定多个扫描电压点逐点测试，从而大幅缩短了整体测试时长，提高了测试效率。本文为AI基于商业动态数据生成，仅供参考。

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